テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、カスタマイズ可能でフル統合型のケースレー4200A-SCS型パラメータ・アナライザを発表します。新しいユーザ、使用頻度の少ないユーザでも特性評価の複雑さから解放され、テスト・セットアップが ...

テクトロニクスは8月30日、半導体デバイス、センサー、材料、パッシブ/アクティブ部品などの電気特性評価を行うケース ...

学部生用で初となるナノ加工研究所が、実習用にケースレーの4200A-SCS型パラメータ・アナライザを採用 テクトロニクスは、本日、米国イリノイ大学アーバナ・シャンペーン校の電気／コンピュータ工学部が、学部生用で初となるマイクロ／ナノ ...

テクトロニクスは、本日、米国イリノイ大学アーバナ・シャンペーン校の電気／コンピュータ工学部が、学部生用で初となるマイクロ／ナノエレクトロニクス実習用のナノ加工研究所において、ケースレーの4200A-SCS型パラメータ・アナライザ3台と、4200A-CVIV ...

BEAVERTON, OR. Tektronix Inc. has announced the availability of two new source-measure unit (SMU) modules for the Keithley 4200A-SCS parameter analyzer that can perform low-current measurements even ...