ケースレーインスツルメンツ(代表取締役木下 伸二、以下、ケースレー)は、本日、ケースレーのS530シリーズ・パラメトリック・テスト・システムのシステム・ソフトウェア・アップデート(KTE version 5.6)を発表します。これにより、測定時間を最大25% ...
新しいKTE 7をベースとしたS530シリーズ・プラットフォームにより、測定性能の最大化とコストの最小化を実現し、急成長市場における半導体製造メーカの競争力を強化 2020年10月6日(米国オレゴン州ビーバートン) -- テクトロニクス(所在地:東京都港区 ...
キーサイトの新しいパラレル・パラメトリック・テスト・システムが高スループットかつコスト効率の高いウエハテストを実現 新たなプローブカード・アダプタとSPECSソフトウェアにより、スムーズな製造立ち上げをサポート ※米国時間2021年11月30日にキー ...
SANTA ROSA, Calif.--(BUSINESS WIRE)--Keysight Technologies, Inc. (NYSE: KEYS), a leading technology company that delivers advanced design and validation solutions to help accelerate innovation to ...
エレクトロニクス製造サプライチェーンの国際展示会「SEMICON Japan 2022」が2022年12月14日から16日にかけて、東京ビッグサイト ...
2020年10月6日(米国オレゴン州ビーバートン) -- テクトロニクス(所在地:東京都港区、代表取締役: Kent Chon)は本日、KTE 7ソフトウェアおよびその他の拡張機能を搭載した新しいKeithley S530シリーズ・パラメトリック・テスト・システムを発表しました。
プレスリリース発表元企業:株式会社TFFテクトロニクス/ケースレーインスツルメンツ 新しいKTE 7をベースとしたS530シリーズ・プラットフォームにより、測定性能の最大化とコストの最小化を実現し、急成長市場における半導体製造メーカの競争力を強化 ...
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