テスト・スピード従来製品比2倍以上、DRAM、NANDフラッシュメモリ両方の高速テストに対応 株式会社アドバンテスト（本社:東京都千代田区 代表取締役社長:吉田 芳明）は、メモリ・テスト・システムの新製品「T5835」を発表しました。従来製品「T5833」の後継 ...

メモリ・テスト・システム「T5851-STM16G」にNVMeのシステム・レベル・テスト機能を追加 株式会社アドバンテスト（本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明、以下「当社」）は、このほど、NVMe（不揮発性メモリに最適化した高速通信プロトコル）のシステム ...